- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayage; applications des techniques de sonde à balayage, p.ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 10/06 - Circuits ou algorithmes à cet effet
Détention brevets de la classe G01Q 10/06
Brevets de cette classe: 243
Historique des publications depuis 10 ans
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1
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Bruker Nano, Inc. | 334 |
37 |
| Infinitesima Limited | 62 |
25 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2362 |
14 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 2646 |
12 |
| Shimadzu Corporation | 5791 |
10 |
| National University Corporation Kanazawa University | 243 |
5 |
| Ohba, Yusuke | 9 |
5 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 34 |
4 |
| Universitat Basel | 266 |
4 |
| Nearfield Instruments B.V. | 34 |
4 |
| Massachusetts Institute of Technology | 9795 |
3 |
| Anton Paar GmbH | 180 |
3 |
| Cornell University | 3036 |
3 |
| IMEC VZW | 1410 |
3 |
| Imperial Innovations Limited | 636 |
3 |
| JPK Instruments AG | 22 |
3 |
| SensApex Oy | 16 |
3 |
| Universite Joseph Fourier | 159 |
3 |
| UT-Battelle, LLC | 1333 |
3 |
| Hitachi, Ltd. | 16452 |
2 |
| Autres propriétaires | 94 |